المختبر المركزي بكلية العلوم والدراسات الإنسانية :
يحتوي مختبر الجامعة المركزي على العديد من الأجهزة المتقدمة في مجال الكيمياء والفيزياء والأحياء الدقيقة التي تساهم في تقديم التحاليل المخبرية بما يتفق مع معايير الجودة المطبقة في المختبرات العالمية، وهذه التحاليل أسهمت في خدمة عدد كبير من الشرائح المستفيدة سواءً على مستوى القطاعين الحكومي والخاص في مجال التحليل والتدريب والاستشارات، وكذلك تدريب المهتمين من الباحثين والطلاب وأفراد المجتمع للارتقاء بمستوياتهم التقنية والمهنية مما جعل للمختبر المركزي دوراً ريادياً في تطوير عجلة البحث العلمي والمعرفة والارتقاء بمستوى الباحثين والطلاب والمختصين بما يتماشى مع رؤية ورسالة الجامعة وكذلك البرامج الوطنية لمسايرة النهضة الشاملة للبلاد في شتى المجالات.
ويقدم مختبر الجامعة المركزي مجموعة من الدورات التدريبية المتخصصة في مجال تشغيل المختبرات والأمن والسلامة المختبرية لعدد من منسوبي الجامعات السعودية والقطاعين العام والخاص. كما يساهم المختبر في خدمة طلاب الجامعة من خلال التدريب والإشراف على المشاريع البحثية التي يقدمونها. كما يتم اجراء فحوصات (المياه، العسل، التربة، الكائنات الدقيقة، الخواص الفيزيائية للمواد) لجهات حكومية وخاصة، وحصل المختبر على شهادة المواصفات القياسية الدولية ايزو ISO/IEC 17025:2017 لكفاءة أداء مختبرات الفحص والمعايرة من مؤسسة الاعتماد الأمريكية PERRY JOHNSON LABORATORY ACCREDITATION, INC
| اسم الجهاز | نوع الجهاز | استخدام الجهاز |
|---|---|---|
| Bruker AVANCE III 400 MHz | - | - |
| Nuclear Magnetic Resonance | Bruker | توصيف المركبات العضوية |
| Surface Area and Porosity Analyzer | 3020M+C | تقدير حجم النتوءات ومساحة السطح |
| Surface Area and pore size Analyzer | Autosorb iQ | تقدير حجم النتوءات ومساحة السطح |
| اسم الجهاز | نوع الجهاز | استخدام الجهاز |
|---|---|---|
| التحليل الحراري الوزني Thermal Gravimetric Analysis (TGA) | NETZSCH | تحديد الثبات الحراري للمواد |
| قياس المسح التفاضلي Differential Scanning Calorimetry (DSC) | NETZSCH | تقدير التغير في الأطوار للمواد |
| Elemental Analysis | Elementar | تقدير نسب في المواد CHNS |
| Raman Microscope | Brucker | توصيف المواد |
| اسم الجهاز | نوع الجهاز | استخدام الجهاز |
|---|---|---|
| Electron Scanning Microscope(SEM) مجهر المسح الإلكتروني | FEI | تصوير المواد النانونية |
| Ion Polishing Machine(PIPS II) آلة تلميع الأيونات | GATAN | تجهيز العينات للتصوير |
| Atomic Force Microscope(AFM) مجهر القوة الذرية | Bruker | تصوير سطح المواد |
| 3D Non-Contact Profiler CONTOUR GT-K برنامج التعريف ثلاثي الأبعاد | Bruker | اشباه الموصلات والخلايا الشمسية |
| Stylus Profiler قلم التعريف | Bruker | اشباه الموصلات والخلايا الشمسية |
| Semiconductor Characterization System SCS 4200 نظام توصيف أشباه الموصلات | Keithley | اشباه الموصلات والخلايا الشمسية |
| Probe Station EPS150 RF مقياس القطع | Cascade | اشباه الموصلات والخلايا الشمسية |
| Ellipsometer مقياس القطع | J Woollam | توصيف السطح والسمك للمواد |
| X-Ray Photoelectron Spectrometer(XPS) مطياف الأشعة السينية الضوئية | Thermo | تقدير العناصر في المواد |
| اسم الجهاز | نوع الجهاز | استخدام الجهاز |
|---|---|---|
| Physical Vapor Deposition System(PVD) نظام ترسيب البخار الفيزيائي | Lybold | تغطية الأسطح وعمل اغشية للمواد |
| Pulsed Laser Deposition(PLD) ترسيب الليزر النبضي | HHV Edward | تغطية الأسطح وعمل اغشية للمواد |
| Chemical Vapor Deposition(CVD) ترسيب الأبخرة الكيميائية | First Nano | تغطية الأسطح وعمل اغشية للمواد |
| Surface Area and Porosity Analyzer محلل مساحة السطح والمسامية | - | - |
